<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">pribor</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Известия высших учебных заведений. Приборостроение</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Journal of Instrument Engineering</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0021-3454</issn><issn pub-type="epub">2500-0381</issn><publisher><publisher-name>Национальный исследовательский университет ИТМО</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.17586/0021-3454-2023-66-7-539-558</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">pribor-132</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>СИСТЕМНЫЙ АНАЛИЗ, УПРАВЛЕНИЕ И ОБРАБОТКА ИНФОРМАЦИИ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>SYSTEM ANALYSIS, MANAGEMENT AND INFORMATION PROCESSING</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Контроль самодвойственных устройств с применением схем сжатия на основе полных сумматоров</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Control of self-dual devices using compression circuits based on full adders</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Ефанов</surname><given-names>Д. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Efanov</surname><given-names>D. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Дмитрий Викторович Ефанов - д-р техн. наук, профессор; кафедра автоматики, телемеханики и связи на железнодорожном транспорте; Высшая школа транспорта Института машиностроения, материалов и транспорта; профессор</p><p>Москва</p><p>Санкт-Петербург</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Dmitry V. Efanov — Dr. Sci., Professor; Department of Automation, Remote Control, and Communications on Railway Transport; Higher School of Transport, Institute of Mechanical Engineering, Materials, and Transport, Professor</p><p>Moscow</p><p>St. Petersburg </p></bio><email xlink:type="simple">TrES-4b@yandex.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Погодина</surname><given-names>Т. С.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Pogodina</surname><given-names>T. S.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Татьяна Сергеевна Погодина - студентка; кафедра автоматики, телемеханики и связи на железнодорожном транспорте Института транспортной техники и систем управления</p><p>Москва</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Tatiana S. Pogodina — Student; , Department of Automation, Remote Control, and Communications on Railway Transport</p><p>Moscow</p></bio><email xlink:type="simple">pogodina-ts@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Российский университет транспорта; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого</institution></aff><aff xml:lang="en"><institution>Russian University of Transport; Peter the Great St. Petersburg Polytechnic University</institution></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-2"><aff xml:lang="ru"><institution>Российский университет транспорта</institution></aff><aff xml:lang="en"><institution>Russian University of Transport</institution></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2023</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>27</day><month>11</month><year>2024</year></pub-date><volume>66</volume><issue>7</issue><fpage>539</fpage><lpage>558</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Национальный исследовательский университет ИТМО, 2024</copyright-statement><copyright-year>2024</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Национальный исследовательский университет ИТМО</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Национальный исследовательский университет ИТМО</copyright-holder><license xlink:href="https://pribor.ifmo.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://pribor.ifmo.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://pribor.ifmo.ru/jour/article/view/132">https://pribor.ifmo.ru/jour/article/view/132</self-uri><abstract><p>Рассматривается задача организации контроля вычислений по диагностическому признаку, характеризующему принадлежность функций, вычисляемых объектом диагностирования, к классу самодвойственных булевых функций. Описана структура самодвойственного устройства с контролем каждого выхода в отдельности. Предложена структура организации схемы встроенного контроля с применением специальной схемы сжатия сигналов. Такая структура позволяет уменьшить число наблюдаемых выходов и сократить тем самым число элементов в структуре схемы встроенного контроля (СВК). В качестве устройств сжатия сигналов предложено использовать типовые схемы полных сумматоров, которые являются самодвойственными цифровыми устройствами. Показано, что такой подход к организации СВК позволяет сократить примерно на 8—9 % показатели сложности ее технической реализации по сравнению с контролем вычислений на каждом выходе объекта диагностирования. Приведены формулы оценки сложности реализации СВК для каждого способа ее организации. Сформированы алгоритмы синтеза СВК с применением схем сжатия сигналов. Приведены результаты моделирования самодвойственных структур с использованием рассматриваемых способов в среде моделирования Multisim. Представленные результаты позволяют на практике синтезировать самопроверяемые цифровые устройства и вычислительные системы.  </p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The problem of organizing the control of calculations by a diagnostic parameter characterizing the belonging of the functions calculated by the object of diagnosis to the class of self-dual Boolean functions is considered. The structure of a self-dual device with control of each output separately is described. A structure is proposed for a builtin control circuit using a special signal compression scheme. Such a structure makes it possible to reduce the number of observed outputs and thereby reduce the number of elements in the structure of the built-in control circuit (ICS). Standard circuits of full adders, which are self-dual digital devices, are supposed to be used as signal compression devices. It is shown that such an approach to the ICS organization makes it possible to reduce the complexity of its technical implementation by approximately 8–9% compared to the control of calculations at each output of the diagnostic object. Formulas for estimating the complexity of the implementation of the ICS for each method of its organization are given. Algorithms for the synthesis of ICS with the use of signal compression schemes are formulated. The data obtained by modeling self-dual structures using the considered methods in the Multisim modeling environment are demonstrated. The presented results enable practical synthesis of self-checking digital devices and computing systems. </p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>самопроверяемые цифровые устройства</kwd><kwd>обнаружение ошибок в цифровых устройствах</kwd><kwd>схема встроенного контроля</kwd><kwd>контроль самодвойственности сигналов</kwd><kwd>самодвойственные устройства</kwd><kwd>полный сумматор</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>self-checking digital devices</kwd><kwd>error-detecting in digital devices</kwd><kwd>built-in error-detection circuit</kwd><kwd>checking self-duality of signals</kwd><kwd>self-dual devices</kwd><kwd>full-adder</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Fujiwara E. Code Design for Dependable Systems: Theory and Practical Applications. John Wiley &amp; Sons, 2006. 720 p.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Fujiwara E. Code Design for Dependable Systems: Theory and Practical Applications, John Wiley &amp; Sons, 2006, 720 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ubar R., Raik J., Vierhaus H.-T. Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip (Premier Reference Source): Information Science Reference. Hershey — N. Y.: IGI Global, 2011. 578 p.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ubar R., Raik J., Vierhaus H.-T. Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip (Premier Reference Source), Information Science Reference, Hershey, NY, IGI Global, 2011, 578 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Дрозд А. В., Харченко В. С., Антощук С. Г., Дрозд Ю. В., Дрозд М. А., Сулима Ю. Ю. Рабочее диагностирование безопасных информационно-управляющих систем / Под ред. А. В. Дрозда и В. С. Харченко. Харьков: Нац. аэрокосм. ун-т им. Н. Е. Жуковского „ХАИ“, 2012. 614 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Drozd A.V., Kharchenko V.S., Antoshchuk S.G., Drozd Yu.V., Drozd M.A., Sulima Yu.Yu. Rabochee diagnostirovanie bezopasnykh informatsionno-upravlyayushchikh sistem (Working Diagnosing of Safe Management Information Systems), Khar'kov, 2012, 614 p. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Dubrova E. Fault-Tolerant Design. N. Y.: Springer Science+Business Media. 2013. XV+185. DOI: 10.1007/978-14614-2113-9.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Dubrova E. Fault-Tolerant Design, Springer Science+Business Media, NY, 2013, XV+185 p., DOI: 10.1007/978-14614-2113-9.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ярмолик В. Н. Контроль и диагностика вычислительных систем. Минск: Бестпринт, 2019. 387 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Yarmolik V.N. Kontrol' i diagnostika vychislitel'nykh sistem (Control and Diagnostics of Computer Systems), Minsk, 2019, 387 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Mikoni S. Top Level Diagnostic Models of Complex Objects // Lecture Notes in Networks and Systems. 2022. Vol. 442. P. 238—249. DOI: 10.1007/978-3-030-98832-6_21.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Mikoni S. Lecture Notes in Networks and Systems, 2022, vol. 442, pp. 238–249, DOI: 10.1007/978-3-030-98832-6_21.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Яблонский С. В., Гаврилов Г. П., Кудрявцев В. Б. Математическая логика и основания математики. М.: Наука, 1966. 119 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Yablonsky S.V., Gavrilov G.P., Kudryavtsev V.B. Matematicheskaya logika i osnovaniya matematiki (Mathematical Logic and Foundations of Mathematics), Moscow, 1966, 119 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Reynolds D. A., Meize G. Fault Detection Capabilities of Alternating Logic // IEEE Trans. on Computers. 1978. Vol. C-27, iss. 12. P. 1093—1098. DOI: 10.1109/TC.1978.1675011.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Reynolds D.A., Meize G. IEEE Transactions on Computers, 1978, no. 12(C-27), pp. 1093–1098, DOI: 10.1109/TC.1978.1675011.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Аксенова Г. П. Восстановление в дублированных устройствах методом инвертирования данных // Автоматика и телемеханика. 1987. № 10. С. 144—153.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Aksenova G.P. Avtomatika i Telemekhanika, 1987, no. 10, pp. 144–153. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гессель М., Мошанин В. И., Сапожников В. В, Сапожников Вл. В. Обнаружение неисправностей в самопроверяемых комбинационных схемах с использованием свойств самодвойственных функций // Автоматика и телемеханика. 1997. № 12. С. 193—200.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Hessel M., Moshanin V.I., Sapozhnikov V.V., Sapozhnikov Vl.V. Avtomatika i Telemekhanika, 1997, no. 12, pp. 193–200. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Согомонян Е. С., Слабаков Е. В. Самопроверяемые устройства и отказоустойчивые системы. М.: Радио и связь, 1989. 208 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sogomonyan E.S., Slabakov E.V. Samoproveryaemye ustroystva i otkazoustoychivye sistemy (The Self-Checked Devices and Failure-Safe Systems), Moscow, 1989, 208 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Nicolaidis M., Zorian Y. On-Line Testing for VLSI – А Compendium of Approaches // Journal of Electronic Testing: Theory and Application. 1998. Vol. 12, iss. 1—2. P. 7—20. DOI: 10.1023/A:1008244815697.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Nicolaidis M., Zorian Y. Journal of Electronic Testing: Theory and Application, 1998, no. 1-2(12), pp. 7–20, DOI: 10.1023/A:1008244815697.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Lala P. K. Self-Checking and Fault-Tolerant Digital Design. San Francisco: Morgan Kaufmann Publ., 2001. 216 p.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Lala P.K. Self-Checking and Fault-Tolerant Digital Design, San Francisco, Morgan Kaufmann Publishers, 2001, 216 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Tshagharyan G., Harutyunyan G., Shoukourian S., Zorian Y. Experimental Study on Hamming and Hsiao Codes in the Context of Embedded Applications // Proc. of the 15th IEEE East-West Design &amp; Test Symposium (EWDTS’2017), Novi Sad, Serbia, Sept. 29 – Oct. 2, 2017. P. 25—28. DOI: 10.1109/EWDTS.2017.8110065.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Tshagharyan G., Harutyunyan G., Shoukourian S., Zorian Y. Proceedings of 15th IEEE East-West Design &amp; Test Symposium (EWDTS’2017), Novi Sad, Serbia, September 29–October 2, 2017, pp. 25–28, DOI: 10.1109/EWDTS.2017.8110065.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Saposhnikov Vl. V., Dmitriev A., Goessel M., Saposhnikov V. V. Self-Dual Parity Checking – a New Method for on Line Testing // Proc. of the 14th IEEE VLSI Test Symposium, Princeton, USA, 1996. P. 162—168.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Saposhnikov Vl.V., Dmitriev A., Goessel M., Saposhnikov V.V. Proceedings of 14th IEEE VLSI Test Symposium, USA, Princeton, 1996, pp. 162–168.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit16"><label>16</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гессель М., Дмитриев А. В., Сапожников В. В., Сапожников Вл. В. Самотестируемая структура для функционального обнаружения отказов в комбинационных схемах // Автоматика и телемеханика. 1999. № 11. С. 162—174.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gessel M., Dmitriev A.V., Sapozhnikov V.V., Sapozhnikov Vl.V. Automation and Remote Control, 1999, no. 11(60), pp. 1653–1663.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit17"><label>17</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Saposhnikov Vl. V., Moshanin V., Saposhnikov V. V., Goessel M. Experimental Results for Self-Dual Multi-Output Combinational Circuits // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications. 1999. Vol. 14, iss. 3. P. 295—300. DOI: 10.1023/A:1008370405607.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Saposhnikov Vl.V., Moshanin V., Saposhnikov V.V., Goessel M. Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 1999, no. 3(14), pp. 295–300, DOI: 10.1023/A:1008370405607.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit18"><label>18</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гессель М., Дмитриев А. В., Сапожников В. В., Сапожников Вл. В. Обнаружение неисправностей в комбинационных схемах с помощью самодвойственного контроля // Автоматика и телемеханика. 2000. № 7. С. 140—149.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gessel' M., Dmitriev A.V., Sapozhnikov V.V., Sapozhnikov Vl.V. Automation and Remote Control, 2000, no. 7(61), pp. 1192–1200.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit19"><label>19</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Сапожников В. В., Сапожников Вл. В., Гессель М. Самодвойственные дискретные устройства. СПб: Энергоатомиздат, 2001. 331 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sapozhnikov V.V., Sapozhnikov Vl.V. Gessel M. Samodvoystvennyye diskretnyye ustroystva (Self-Dual Discrete Devices), St. Petersburg, 2001, 331 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit20"><label>20</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Сапожников В. В., Сапожников Вл. В., Валиев Р. Ш. Синтез самодвойственных дискретных систем. СПб: Элмор, 2006. 220 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sapozhnikov V.V., Sapozhnikov Vl.V., Valiev R.Sh. Sintez samodvoystvennykh diskretnykh sistem (Synthesis of Self-Dual Discrete Systems), St. Petersburg, 2006, 220 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit21"><label>21</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Göessel M., Ocheretny V., Sogomonyan E., Marienfeld D. New Methods of Concurrent Checking. Dordrecht: Springer Science+Business Media B.V., 2008. 184 p.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Göessel M., Ocheretny V., Sogomonyan E., Marienfeld D. New Methods of Concurrent Checking: Edition 1, Dordrecht, Springer Science+Business Media B.V., 2008, 184 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit22"><label>22</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Сапожников В. В., Сапожников Вл. В., Ефанов Д. В. Основы теории надежности и технической диагностики. СПб: Изд-во „Лань“, 2019. 588 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sapozhnikov V.V., Sapozhnikov Vl.V., Efanov D.V. Osnovy teorii nadezhnosti i tekhnicheskoy diagnostiki (Fundamentals of the Theory of Reliability and Technical Diagnostics), St. Petersburg, 2019, 588 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit23"><label>23</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Carter W. C., Duke K. A., Schneider P. R. Self-Checking Error Checker for Two-Rail Coded Data: Pat. 747533, US. Jan. 26, 1971.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Pat. US747533, Self-Checking Error Checker for Two-Rail Coded Data, W.C. Carter, K.A. Duke, P.R. Schneider, Priority 25 July 1968, Published 26 Jan. 1971.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit24"><label>24</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Сапожников В. В., Сапожников В. В. Самопроверяемые дискретные устройства. СПб: Энергоатомиздат, 1992. 224 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sapozhnikov V.V., Sapozhnikov Vl.V. Samoproveryaemye diskretnye ustroystva (The Self-Checked Discrete Devices), St. Petersburg, 1992, 224 p. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit25"><label>25</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Harris D. M., Harris S. L. Digital Design and Computer Architecture. Morgan Kaufmann, 2012. 569 p.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Harris D.M., Harris S.L. Digital Design and Computer Architecture, Morgan Kaufmann, 2012, 569 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit26"><label>26</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Сапожников В. В., Сапожников Вл. В., Ефанов Д. В. Коды Хэмминга в системах функционального контроля логических устройств. СПб: Наука, 2018. 151 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sapozhnikov V.V., Sapozhnikov Vl.V., Efanov D.V. Kody Khemminga v sistemakh funktsional'nogo kontrolya logicheskikh (Hamming Codes in Functional Control Systems of Logical), St. Petersburg, 2018, 151 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit27"><label>27</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Сапожников В. В., Сапожников Вл. В., Ефанов Д. В. Коды с суммированием для систем технического диагностирования. Т. 1. Классические коды Бергера и их модификации. М.: Наука, 2020. 383 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sapozhnikov V.V., Sapozhnikov Vl.V., Efanov D.V. Kody s summirovaniyem dlya sistem tekhnicheskogo diagnostirovaniya. T. 1. Klassicheskiye kody Bergera i ikh modifikatsii (Summed Codes for Technical Diagnostic Systems. Vol. 1. Classical Berger Codes and Their Modifications), Moscow, 2020, 383 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit28"><label>28</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Сапожников В. В., Сапожников Вл. В., Ефанов Д. В. Коды с суммированием для систем технического диагностирования. Т. 2. Взвешенные коды с суммированием. М.: Наука, 2021. 455 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sapozhnikov V.V., Sapozhnikov Vl.V., Efanov D.V. Kody s summirovaniyem dlya sistem tekhnicheskogo diagnostirovaniya. T. 2. Vzveshennyye kody s summirovaniyem (Summed Codes for Technical Diagnostic Systems. Vol. 2. Weighted Codes with Summation), Moscow, 2021, 455 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit29"><label>29</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Сапожников В. В., Сапожников Вл. В., Ефанов Д. В. Классификация ошибок в информационных векторах систематических кодов // Изв. вузов. Приборостроение. 2015. Т. 58, № 5. С. 333—343. DOI: 10.17586/00213454-2015-58-5-333-343.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sapozhnikov V.V., Sapozhnikov Vl.V., Efanov D.V. Journal of Instrument Engineering, 2015, no. 5(58), pp. 333–343, DOI: 10.17586/0021-3454-2015-58-5-333-343. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit30"><label>30</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гессель М., Морозов А. А., Сапожников В. В., Сапожников Вл. В. Построение комбинационных самопроверяемых устройств с монотонно независимыми выходами // Автоматика и телемеханика. 1994. № 7. С. 148—160.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Goessel M., Morozov A.A., Sapozhnikov V.V., Sapozhnikov V.V. Automation and Remote Control, 1994, no. 7(55), pp. 1050–1059.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit31"><label>31</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Morosow A., Sapozhnikov V. V., Sapozhnikov Vl. V., Goessel M. Self-Checking Combinational Circuits with Unidirectionally Independent Outputs // VLSI Design. 1998. Vol. 5, iss. 4. P. 333—345. DOI: 10.1155/1998/20389.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Morosow A., Sapozhnikov V.V., Sapozhnikov Vl.V., Goessel M. VLSI Design, 1998, no. 4(5), pp. 333–345, DOI: 10.1155/1998/20389.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit32"><label>32</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Закревский А. Д., Поттосин Ю. В., Черемисинова Л. Д. Логические основы проектирования дискретных устройств. М.: Физматлит, 2007. 592 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zakrevskiy A.D., Pottosin Yu.V., Cheremisinova L.D. Logicheskiye osnovy proyektirovaniya diskretnykh ustroystv (Logical Foundations for the Design of Discrete Devices), Moscow, 2007, 592 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit33"><label>33</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ефанов Д. В., Погодина Т. С. Самодвойственный контроль комбинационных схем с применением кодов Хэмминга // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2022. № 3. С. 113—122. DOI: 10.31114/2078-7707-2022-3-113-122.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Efanov D.V., Pogodina T.S. Problemy razrabotki perspektivnykh mikro- i nanoelektronnykh sistem (MES) (Problems of Advanced Micro- and Nanoelectronic Systems Development), All-Russia Science &amp; Technology Conference, Moscow, Zelenograd, 2022, no. 3, pp. 113–122, DOI: 10.31114/2078-7707-2022-3-113-122. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit34"><label>34</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ефанов Д. В., Погодина Т. С. Исследование свойств самодвойственных комбинационных устройств с контролем вычислений на основе кодов Хэмминга // Информатика и автоматизация. 2023. Т. 22, № 2. C. 349—392. DOI: 10.15622/ia.22.2.5.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Efanov D.V., Pogodina T.S. Informatics and Automation, 2023, no. 2(22), pp. 349–392, DOI: 10.15622/ia.22.2.5. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
