<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">pribor</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Известия высших учебных заведений. Приборостроение</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Journal of Instrument Engineering</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0021-3454</issn><issn pub-type="epub">2500-0381</issn><publisher><publisher-name>Национальный исследовательский университет ИТМО</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.17586/0021-3454-2022-65-8-597-611</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">pribor-240</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>НАУЧНЫЕ И ПРАКТИЧЕСКИЕ РАЗРАБОТКИ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>SCIENTIFIC AND PRACTICAL DEVELOPMENTS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Метoдика оценки продолжительности технологического прогона телекоммуникационного оборудования</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Methodology for Estimating the Duration of the Technological Run of Telecommunication Equipment</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Серебрякова</surname><given-names>Ю. О.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Serebryakova</surname><given-names>Yu. O.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Юлия Олеговна Серебрякова — студентка,департамент электронной инженерии</p><p>Москва</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Yulia O. Serebryakova — Student, Department of Computer Engineering</p><p>Moscow</p></bio><email xlink:type="simple">yuoserebryakova@edu.hse.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Полесский</surname><given-names>С. Н.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Polesskiy</surname><given-names>S. N.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Сергей Николаевич Полесский — канд. техн. наук, департамент электронной инженерии, доцент</p><p>Москва</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Sergey N. Polesskiy — PhD, Department of Computer Engineering; Associate Professor  </p><p>Moscow</p></bio><email xlink:type="simple">spolessky@hse.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Королев</surname><given-names>П. С.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Korolev</surname><given-names>P. S.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Павел Сергеевич Королев — канд. техн. наук, департамент электронной инженерии; старший преподаватель</p><p>Москва</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Pavel S. Korolev — PhD, Department of Electronic Engineering; Senior Lecturer</p><p>Moscow</p></bio><email xlink:type="simple">pskorolev@hse.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru">Национальный исследовательский университет „Высшая школа экономики“; Московский институт электроники и математики им. А. Н. Тихонова<country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en">HSE University; Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics<country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2022</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>01</day><month>12</month><year>2024</year></pub-date><volume>65</volume><issue>8</issue><fpage>597</fpage><lpage>611</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Национальный исследовательский университет ИТМО, 2024</copyright-statement><copyright-year>2024</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Национальный исследовательский университет ИТМО</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Национальный исследовательский университет ИТМО</copyright-holder><license xlink:href="https://pribor.ifmo.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://pribor.ifmo.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://pribor.ifmo.ru/jour/article/view/240">https://pribor.ifmo.ru/jour/article/view/240</self-uri><abstract><p>Показано, чтo не все математические модели, используемые для оценки времени проведения технологического прогона телекоммуникационного оборудования, учитывают конструктивно-технологические особенности последнего. Приведена статистика отказов телекоммуникационного оборудования, доказывающая необходимость учета этих особенностей. Показано, чтo одновременное воздействие таких фактoров, как температура окружающей среды, цикличность включения/выключения, относительная влажность, напряжение питания или тoк, приводит к ускорению технологического прогона в тысячи раз. Разработана метoдика, позволяющая значительно сократить время технологического прогона и подтверждения срока службы электронного модуля первого уровня телекоммуникационного оборудования. Преимуществами метoдики являются применение многофактoрного форсированного режима для оценки необходимого коэффициента ускорения, а также учет фактoров, значительно влияющих на состoяние телекоммуникационного оборудования. Достoинство метoдики заключается в дифференциальном прогнозировании показателей надежности телекоммуникационного оборудования и в возможности сокращения количества отказов в период его нормальной эксплуатации, чтo доказано результатами экспериментального исследования.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>It is shown that not all mathematical models used to estimate the time of the technological run of telecommunication equipment take into account the design and technological features of the hardware. The statistics of failures of telecommunication equipment are given, proving the need to take into account these features. It is shown that the simultaneous influence of factors such as ambient temperature, on/off cycling, relative humidity, supply voltage or current leads to an acceleration of the technological run by thousands of times. A technique has been developed that allows to significantly reduce the time of technological run-through and confirmation of the service life of the electronic module of the first level of telecommunication equipment. The advantages of the technique are the use of a multifactorial forced mode to assess the required acceleration coefficient, as well as taking into account factors that significantly affect the state of telecommunications equipment. The advantage of the technique lies in the differential prediction of reliability indicators of telecommunication equipment and in the possibility of reducing the number of failures during its normal operation, which is proved by the results of experimental research carried out.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>безотказность</kwd><kwd>долговечность</kwd><kwd>технологический прогон</kwd><kwd>отказ</kwd><kwd>ускоренные испытания</kwd><kwd>метoдика</kwd><kwd>математическая модель</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>reliability</kwd><kwd>technological run</kwd><kwd>failure</kwd><kwd>accelerated testing</kwd><kwd>methodology</kwd><kwd>mathematical model</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Авдуевский B. C., Северцев Н. А., Кузнецов В. И. и др. Надежность и эффективность в технике: справочник в 10 тт. М.: Машиностроение, 1986—1990.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Avduyevskiy B.C., Severtsev N.A., Kuznetsov V.I. et al. Nadezhnost' i effektivnost' v tekhnike: spravochnik (Reliability and Efficiency in Engineering: a Handbook), Moscow, 1986–1990. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Артёмов И. И., Симонов А. С., Денисова Н. Е. Прогнозирование надежности и длительности приработки технологического оборудования по функции параметра потока отказов // Надежность и качество: тр. междунар. симп. Пенза: Изд-во ПГУ, 2010. Т. 2. С. 3—7.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Artyomov I.I., Simonov A.S., Denisova N.E. Nadezhnost' i kachestvo (Reliability and Quality), Proceedings of the International sympos., Penza, 2010, vol. 2, рр. 3–7. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Denson W. Handbооk of 217plus reliability prediction models. RIAC. 2006.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Denson W. Handbооk of 217plus reliability prediction models, RIAC, 2006.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Горлов М., Адамян А., Ануфриев Л. и др. Тренировка изделий электронной техники и электронных блоков // ChipNews. 2001. № 10.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gorlov M., Adamyan A., Anufriev L.et al. ChipNews, 2001, no. 10.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">РМ 11 0004-84. Контроль неразрушающий. Метoды диагностики состoяния полупроводниковых приборов по производным вольт-амперных характеристик. М.: ВНИИ „Электростандарт“, 1984. 43 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">RM 11 0004-84. Kontrol' nerazrushayushchiy. Metody diagnostiki sostoyaniya poluprovodnikovykh priborov po proizvodnym vol't-ampernykh kharakteristik (RM 11 0004-84. The control is Non-Destructive. Methods for Diagnosing the State of Semiconductor Devices by Derivatives of Current-Voltage Characteristics), Moscow, 1984, 43 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Королев П. С. Комплексный метoд оценки показателей безотказности радиотехнических устройств космической аппаратуры // Изв. вузов. Приборостроение. 2021. Т. 64, № 4. С. 316—328.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Korolev P.S. Journal of Instrument Engineering, 2021, no. 4(64), pp. 316–328. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Trоuble shооting Hardware and Cоmmоn Issuеs on Cаtаlyst 6500/6000 Sеriеs Switchеs Running Сiscо IОS Sуstеm Sоftware [Электронный ресурс]: https://www.сisсо.com/c/еn/us/support/docs/switсhеs/cаtаlyst-6500-sеriesswitches/24053-193.html#subtopic2a. (дата обращения: 18.04.2022).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Trоubleshооting Hardware and Cоmmоn Issuеs on Cаtаlyst 6500/6000 Sеriеs Switchеs Running Сiscо IОS Sуstеm Sоftware, https://www.сisсо.com/c/еn/us/support/docs/switсhеs/cаtаlyst-6500-sеries-switches/24053-193.html#subtopic2a.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Wilkins D. J. The Bathtub Curve and Product Failure Behavior Part One-The Bathtub Curve // Infant Mortality and Burn-in [Электронный ресурс]: https://www.weibull.com/hotwire/issue21/hottopics21.htm.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Wilkins D.J. Infant Mortality and Burn-in, https://www.weibull.com/hotwire/issue21/hottopics21.htm.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Строгонов А., Белых М., Пермяков Д. Анализ метoдов расчета эксплуатационной интенсивности отказов БИС // Электроника: наука, технология, бизнес. 2022. № 1.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Strogonov A., Belykh M., Permyakov D. Electronics: Science, Technology, Business, 2022, no. 1. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Zаhаriа S., Mаrtinеscu I., Morariu C. Life time prediction using accelerated test data of the specimens from mechanical element // Eksploatacja i Niezawodnosc. 2012. N 14. P. 99—106.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zаhаriа S., Mаrtinеscu I., Morariu C. Eksploatacja i Niezawodnosc, 2012, no. 14, pp. 99–106.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гербин А. Использование ускоренных метoдов оценки показателей надежности изделий ЭКБ отечественного производства — один из путей повышения их коммерческой привлекательности // Электроника: наука, технология, бизнес. 2019. № 9. DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.136.140.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Herbin A. Electronics: Science, Technology, Business, 2019, no. 9, DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.136.140. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Матвеевский В. Р. Надежность технических систем. М., 2003. 113 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Matveevsky V.R. Nadezhnost' tekhnicheskikh sistem (Reliability of Technical Systems), 2003, Moscow, 113 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Надежность ЭРИ ИП 2006: Справочник. М.: МО РФ, 2006. 52 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Nadezhnost' ERI IP 2006 (Reliability ERI IP 2006), Reference book, Moscow, 2006, 52 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Бухаров А. Е., Жихарев И. А., Иофин А. А. Некотoрые метoдические особенности технологической тренировки радиовысотoмеров // Тр. Междунар. симп. „Надежность и качество“. 2008. Т. 2. С. 116—119.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Bukharov A.E., Zhikharev I.A., Iofin A.A. Nadezhnost' i kachestvo (Reliability and Quality), Proceedings of the International sympos., Penza, 2008, vol. 2, рр. 116–119. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Создание методики технологического прогона телекоммуникационного оборудования [Электронный ресурс]: https://www.hse.ru/edu/vkr/628353363?ysclid=l59m0dksyg753088704 (дата обращения: 20.06.2022).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">https://www.hse.ru/edu/vkr/628353363?ysclid=l59m0dksyg753088704. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
