<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">pribor</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Известия высших учебных заведений. Приборостроение</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Journal of Instrument Engineering</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0021-3454</issn><issn pub-type="epub">2500-0381</issn><publisher><publisher-name>Национальный исследовательский университет ИТМО</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.17586/0021-3454-2022-65-7-513-519</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">pribor-299</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ОПТИЧЕСКИЕ И ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫЕ ПРИБОРЫ И СИСТЕМЫ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>OPTICAL AND OPTO-ELECTRONIC INSTRUMENTS AND SYSTEMS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Изофотометрический метод определения линий спектра малой интенсивности</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Isophotometric Method for Determining Low-Intensity Spectrum Lines</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Кирилловский</surname><given-names>В. К.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Kirillovsky</surname><given-names>V. K.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Владимир Константинович Кирилловский – д-р техн. наук, профессор; инженерно-исследовательский факультет</p><p>Санкт-Петербург</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Vladimir K. Kirillovsky – Dr. Sci., Professor; Faculty of Engineering and Research</p><p>St. Petersburg</p></bio><email xlink:type="simple">vkkir@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Точилина</surname><given-names>Т. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Tochilina</surname><given-names>T. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Татьяна Вячеславовна Точилина – канд. техн. наук; инженерно-исследовательский факультет</p><p>Санкт-Петербург</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Tatiana V. Tochilina – PhD; Faculty of Engineering and Research</p><p>St. Petersburg</p></bio><email xlink:type="simple">tvtochilina@itmo.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Университет ИТМО</institution></aff><aff xml:lang="en"><institution>ITMO University</institution></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2022</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>02</day><month>12</month><year>2024</year></pub-date><volume>65</volume><issue>7</issue><fpage>513</fpage><lpage>519</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Национальный исследовательский университет ИТМО, 2024</copyright-statement><copyright-year>2024</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Национальный исследовательский университет ИТМО</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Национальный исследовательский университет ИТМО</copyright-holder><license xlink:href="https://pribor.ifmo.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://pribor.ifmo.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://pribor.ifmo.ru/jour/article/view/299">https://pribor.ifmo.ru/jour/article/view/299</self-uri><abstract><p>Рассмотрены возможности методов изофотометрии для анализа линий спектра малой интенсивности. Назначение изофотометрии спектра состоит в способности выявления линий и зон спектра с низким уровнем интенсивности. Предложенный метод служит альтернативой традиционным методам регистрации линий спектра, в которых используется фотографирование спектра на приемнике изображения, что позволяет получить информацию о распределении относительной интенсивности спектра в диапазоне 10–2. Изофотометрия функции рассеяния точки позволяет получать диапазон перепада относительных освещенностей в изображении 10–4 – 10–5. Такие же возможности открываются при изофотометрии спектра. Кратко рассмотрены основы инновационных методов изофотометрии излучений и полей. Отмечено основное достоинство метода изофотометрии спектра – возможность обнаружения новых спектральных линий, которые не удается регистрировать традиционными методами. Отмечена эффективность метода и области его применения.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The possibilities of isophotometry methods for the analysis of low-intensity spectral lines are considered. The purpose of spectrum isophotometry is to detect spectral lines and zones of a low intensity level. The proposed method serves as an alternative to the traditional methods of registering spectrum lines that use photographing the spectrum on the image receiver, which allows obtaining information on the distribution of the relative intensity of the spectrum in the range of two orders of magnitude. The isophotometry of the point spread function makes it possible to obtain a range of relative illumination differences in the image up to 10–4 – 10–5. The same possibilities open up with spectrum isophotometry. The basics of innovative methods of isophotometry of radiation and fields are briefly reviewed. It is noted that the main advantage of the spectrum isophotometry method is the possibility of detecting new spectral lines that cannot be detected by traditional methods. The method effectiveness and the scope of its application are described.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>спектр</kwd><kwd>изофотометрия</kwd><kwd>функция преобразования</kwd><kwd>интенсивность спектра</kwd><kwd>инновационный метод</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>spectrum</kwd><kwd>isophotometry</kwd><kwd>transformation function</kwd><kwd>spectrum intensity</kwd><kwd>innovative method</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кирилловский В. К., Точилина Т. В. Оптические измерения. Ч. 5. Аберрации и качество оптического изображения. СПб: Ун-т ИТМО, 2019.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kirillovskiy V.K., Tochilina T.V. Opticheskie izmereniya. Chast' 5(Optical Measurements. Part 5), St. Petersburg, 2019, 35 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кирилловский В. К. Современные оптические исследования и измерения. СПб: Изд-во „Лань“, 2022. 340 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kirillovskiy V.K. Sovremennye opticheskie issledovaniya i izmereniya (Modern Optical Studies and Measurements), St. Petersburg, 2022, 340 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кирилловский В. К., Точилина Т. В. Оптические измерения. Ч. 4. Оценка качества оптического изображения и измерение его характеристик. СПб: Ун-т ИТМО, 2018. 86 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kirillovskiy V.K., Tochilina T.V. Opticheskie izmereniya. Chast' 4. Otsenka kachestva opticheskogo izobrazheniya i izmereniye yego kharakteristik (Optical Measurements. Part 4. Evaluation of optical image quality and measurement of its characteristics), St. Petersburg, 2018. 86 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Иванова Т. А., Кирилловский В. К. Проектирование и контроль оптики микроскопов. Л.: Машиностроение, 1984. 231 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ivanova T.A., Kirillovskiy V.K. Proyektirovaniye i kontrol' optiki mikroskopov (Design and Control of Microscope Optics), Leningrad, 1984, 231 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Родионов С. А. Основы оптики. Конспект лекций. СПб: СПб ГИТМО (ТУ), 2000. 167 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Rodionov S.A. Osnovy optiki. Konspekt lektsiy (Fundamentals of Optics. Lecture Notes), St. Petersburg, 2000, 167 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Зверев В. А. Основы геометрической оптики. СПб: СПб ГИТМО (ТУ), 2002. 218 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zverev V.A. Osnovy geometricheskoy optiki (Fundamentals of Geometric Optics), St. Petersburg, 2002, 218 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Креопалова Г. В., Лазарева Н. Л. Пуряев Д. Т. Оптические измерения. М.: Машиностроение, 1987. 264 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kreopalova G.V., Lazareva N.L., Puryayev D.T. Opticheskiye izmereniya (Optical Measurements), Moscow, 1987, 264 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Еськова Л. М., Гаврилин Д. В. Компьютерные методы контроля оптики. СПб: СПб ГУ ИТМО, 2004. 89 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Eskova L.M., Gavrilin D.V. Komp'yuternyye metody kontrolya optiki (Computer Methods for Controlling Optics), St. Petersburg, 2004, 89 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Оптический производственный контроль / Под ред. Д. Малакары. М.: Машиностроение, 1985. 400 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Malacara D., ed., Optical shop testing, Wiley-Interscience, A John Wiley &amp; Sons, Inc., 2007.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Зайдель А. Н. Основы спектрального анализа. М.: Наука, 1965. 324 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zaydel' A.N. Osnovy spektral'nogo analiza (Fundamentals of Spectral Analysis), Moscow, 1965, 324 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кирилловский В. К., Точилина Т. В. Оптические измерения. Ч. 6. Инновационные направления в оптических измерениях и исследованиях оптических систем. СПб: Ун-т ИТМО, 2019. 96 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kirillovskiy V.K., Tochilina T.V. Opticheskie izmereniya. Chast' 6. Innovatsionnyye napravleniya v opticheskikh izmereniyakh i issledovaniyakh opticheskikh system (Optical Measurements. Part 6. Innovative Directions in Optical Measurements and Research of Optical Systems), St. Petersburg, 2019, 96 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Зверев В. А., Кирилловский В. К., Сокольский М. Н. К методике расшифровки результатов изофотометрической съемки изображений точечных объектов // Современная прикладная оптика и оптические приборы: Материалы Всесоюз. науч.-техн. конф. Л.: ЛИТМО, 1975. С. 62—63.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zverev V.A., Kirillovskiy V.K., Sokol'skiy M.N. Sovremennaya prikladnaya optika i opticheskiye pribory. Chast' 2 (Modern Applied Optics and Optical Devices. Part 2), Leningrad, 1975, рр. 62–63. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Зверев В. А., Кирилловский В. К., Сокольский М. Н. Применение метода изофотометрической регистрации при исследованиях и аттестации главного зеркала БТА // ОМП. 1976. № 12. С. 6—8.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zverev V.A., Kirillovskiy V.K., Sokol'skiy M.N. Journal of Optical Technology, 1976, no. 12, pp. 6–8. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Sahu R., Mordechai Sh. Spectroscopic techniques in medicine: The future of diagnostics // Applied Spectroscopy Rev. 2016. N 51(6). P. 484—499. DOI: 10.1080/05704928.2016.1157809.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sahu R., Mordechai Sh. Applied Spectroscopy Reviews, 2016, no. 6(51), pp. 484–499, DOI: 10.1080/05704928.2016.1157809.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Hammes G. G. Spectroscopy for the Biological Sciences. Wiley, 2005. 192 р.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Hammes G.G. Spectroscopy for the Biological Sciences, 2005, 192 р., DOI:10.1002/bmb.2006.49403402161.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit16"><label>16</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Popescu M., Birlan M., Gherase R.M., Sonka A., Naiman M., Cristescu C. P. Applications of visibile and infrared spectroscopy to astronomy // UPB Scientific Bulletin, Ser. A: Applied Mathematics and Physics. 2012. N 74(3). P. 107—120.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Popescu M., Birlan M., Gherase R.M., Sonka A., Naiman M., Cristescu C.P. UPB Scientific Bulletin, Series A: Applied Mathematics and Physics, 2012, no. 3(74), pp. 107–120.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit17"><label>17</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Mandon J., Guelachvili G., Picqué N. Fourier transform spectroscopy with a laser frequency comb // Nature Photonics. 2009. Vol. 3. Р. 99—102. DOI: 10.1038/nphoton.2008.293.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Mandon J., Guelachvili G. &amp; Picqué N. Nature Photonics, 2009, vol. 3, рр. 99–102, DOI:10.1038/nphoton.2008.293.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit18"><label>18</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Coddington I., Swann W. C., Newbury N. R. Coherent Dual Comb Spectroscopy at High Signal to Noise // Physical Rev. E, Statistical Physics, Plasmas, Fluids, and Related Interdisciplinary Topics. 2010. N 82(4). DOI: 10.1103/PhysRevA.82.043817.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Coddington I., Swann W.C., Newbury N.R. Physical review. E, Statistical physics, plasmas, fluids, and related interdisciplinary topics, 2010, no. 4(82), DOI: 10.1103/PhysRevA.82.043817.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit19"><label>19</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Schiller S. Spectrometry with frequency combs // Opt. Letters. 2002. N 27. P. 766—768. DOI: 10.1364/OL.27.000766.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Schiller S. Opt. Lett., 2002, no. 27, pp. 766–768, DOI: 10.1364/OL.27.000766.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit20"><label>20</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Gohle C., Stein B., Schliesser A., Udem T., Hänsch T.W. Frequency comb vernier spectroscopy for broadband, highresolution, high-sensitivity absorption and dispersion spectra // Phys. Rev. Lett. 2007. N 99. P. 263902. DOI: 10.1103/PhysRevLett.99.263902.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gohle C., Stein B., Schliesser A., Udem T. &amp; Hänsch T.W. Phys. Rev. Lett., 2007, no. 99, pp. 263902, DOI: 10.1103/PhysRevLett.99.263902.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
