<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">pribor</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Известия высших учебных заведений. Приборостроение</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Journal of Instrument Engineering</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0021-3454</issn><issn pub-type="epub">2500-0381</issn><publisher><publisher-name>Национальный исследовательский университет ИТМО</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.17586/0021-3454-2026-69-2-151-157</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">pribor-467</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ОПТИЧЕСКИЕ И ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫЕ ПРИБОРЫ И КОМПЛЕКСЫ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>OPTICAL AND OPTOELECTRONIC DEVICES AND COMPLEXES</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Установка для калибровки спектроаналитического прибора по его спектральной чувствительности</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Spectral Sensitivity Calibration Setup for Spectro Analytical Instruments</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Ильинский</surname><given-names>А. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Ilinskii</surname><given-names>A. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Александр Владимирович Ильинский — заместитель директора, научно-образовательный центр „Музей истории Университета ИТМО“, </p><p>Санкт-Петербург.</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Alexander V. Ilinskii — Vice-Director of the Scientific Educational Center “ITMO University History Museum",</p><p>St. Petersburg.</p></bio><email xlink:type="simple">avilinskii@itmo.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Мальцева</surname><given-names>Н. К.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Maltseva</surname><given-names>N. K.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Надежда Константиновна Мальцева — канд. техн. наук, директор, научно-образовательный центр „Музей истории Университета ИТМО“,</p><p>Санкт-Петербург.</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Nadezhda K. Maltseva — PhD; Director of the Scientific Educational center “ITMO University History Museum”, </p><p>St. Petersburg.</p></bio><email xlink:type="simple">nkmaltceva@itmo.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Раскин</surname><given-names>Е. О.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Raskin</surname><given-names>E. O.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Евгений Олегович Раскин — директор по молодежной политике,</p><p>Санкт-Петербург.</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Eugene O. Raskin —Director of Youth Policy,</p><p>St. Petersburg.</p></bio><email xlink:type="simple">raskin@itmo.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Университет ИТМО</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>ITMO University</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2026</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>13</day><month>03</month><year>2026</year></pub-date><volume>69</volume><issue>2</issue><fpage>151</fpage><lpage>157</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Национальный исследовательский университет ИТМО, 2026</copyright-statement><copyright-year>2026</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Национальный исследовательский университет ИТМО</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Национальный исследовательский университет ИТМО</copyright-holder><license xlink:href="https://pribor.ifmo.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://pribor.ifmo.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://pribor.ifmo.ru/jour/article/view/467">https://pribor.ifmo.ru/jour/article/view/467</self-uri><abstract><p>Представлена установка для калибровки спектроаналитического прибора (САП) по его спектральной чувствительности. Особенность установки состоит в том, что на вход САП поступает набор узкоспектральных потоков излучения. Разработанная оптическая схема источника калибровочного излучения, входящего в состав установки, позволяет получить набор таких потоков излучения. Потоки измерялись опорным фотоприемником именно на входе САП, что исключало необходимость учета влияния пропускания среды на результаты измерений.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>An installation for calibrating the spectral sensitivity of a spectroanalytical instrument (SAP) is presented. The special feature of the installation is that a set of narrow-spectrum radiation fluxes enters the SAP. The developed optical scheme of the calibration radiation source included in the installation makes it possible to obtain a set of such radiation fluxes. The fluxes were measured by a reference photodetector precisely at the SAP inlet, which eliminated the need to take into account the influence of medium transmission on the measurement results.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>калибровка</kwd><kwd>оптико-электронная система</kwd><kwd>спектральная характеристика чувствительности</kwd><kwd>источник калибровочного излучения</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>calibration</kwd><kwd>optoelectronic system</kwd><kwd>spectral sensitivity characteristic</kwd><kwd>calibration radiation source</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Титов Д. В. Стенд для испытаний оптико-электронных устройств // Изв. вузов. Приборостроение. 2010. Т. 53, № 9. С. 80–83.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Titov D.V. Journal of Instrument Engineering, 2010, no. 9(53), pp. 80–83. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Eckart M., Adams J., Boyce K. et al. Ground calibration of the Astro-H (Hitomi) soft x-ray spectrometer // Proc. SPIE. Telescopes and Instrumentation 2016: Ultraviolet to Gamma Ray. 2016. Vol. 9905. Space. Р. 99053W. DOI: 10.1117/12.2233053.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Eckart M., Adams J., Boyce K. et al. Proc. SPIE, Telescopes and Instrumentation 2016: Ultraviolet to Gamma Ray, 2016, vol. 9905, Space, рр. 99053W, DOI: 10.1117/12.2233053.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Yao Li et al. Spectral radiance calibration method for spectroradiometers based on diffraction aberration factors correction // Opt. Express. 2025. Vol. 33, N 2. Р. 3400–3413. DOI: 10.1364/OE.549749.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Yao Li et al. Opt. Express, 2025, no. 2(33), pp. 3400–3413, DOI: 10.1364/OE.549749.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Осипов В. М., Борисова Н. Ф. Учет поглощенной инфракрасной радиации при испытаниях и аттестации оптико-электронной аппаратуры // Оптический журнал. 2019. Т. 86, № 8. С. 19–24. http://doi.org/10.17586/1023-50862019-86-08-19-24.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Osipov V.M. and Borisova N.F. Journal of Optical Technology, 2019, no. 8(86), pp. 471–475, https://doi.org/10.1364/JOT.86.000471.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Торшина И. П. Компьютерное моделирование многодиапазонных оптико-электронных систем // Изв. вузов. Приборостроение. 2008. № 9. С. 37‒40.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Torshina I. P. Journal of Instrument Engineering, 2008, no. 9, pp. 37‒40. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ильинский А. В., Мальцева Н. К., Раскин Е. О. Метод калибровки спектроаналитического прибора // Изв. вузов. Приборостроение. 2026. Т. 69, № 1. C. 49–59.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ilinsky A.V., Maltseva N.K., Raskin E.O. Journal of Instrument Engineering, 2026, no. 1(69), pp. 49–59. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Мушенков А. В. Дифракционный монохроматор МДР-23 с регистрацией на ФЭУ. Методическое пособие для студентов физического факультета. М.: МГУ им. М. В. Ломоносова, 2022. 18 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Mushenkov A.V. Difraktsionnyy monokhromator MDR-23 s registratsiyey na FEU (Diffraction Monochromator MDR-23 with Registration on a Photomultiplier), Moscow, 2022, 18 р. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ильинский А. В., Мальцева Н. К. Метод многоспектральной имитации излучения точечных объектов // Оптический журнал. 2010. Т. 77, № 2. С. 74–78.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Il’inskiǐ A.V., Mal’tseva N.K. Journal of Optical Technology, 2010, no. 2(77), pp. 137–140.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ильинский А. В., Мальцева Н. К., Раскин Е. О. Новый подход к измерениям и расчетам спектральных характеристик селективных элементов оптико-электронных систем // Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики. 2025. Т. 25, № 6. С. 1024 –1032. DOI: 10.17586/2226-1494-2025-25-6-1024-1032.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ilyinsky A.V., Mal’tseva N.K., Raskin E.O. Scientific and Technical Journal of Information Technologies, Mechanics and Optics, 2025, no. 6(25). Р. 1024–1032. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
