Мера сравнения для диапазона длин волн (2–20) мкм

Обсуждается возможность создания меры спектрального коэффициента диффузного отражения для диапазона длин волн (2–20) мкм для применения в составе лабораторного спектрального оборудования. Представлены результаты по изготовлению образцов меры и исследованию их характеристик применительно к задачам измерения спектрального коэффициента диффузного отражения шероховатых поверхностей с малым от ражением на приборах с приставками диффузного отражения. Предложенный подход к выбору структуры поверх ности, ее покрытию и меры является основой для измерений характеристик широкой номенклатуры материалов методом сравнения в области инфракрасного диапазона (2–20) мкм. Один из вариантов меры сравнения адаптирован для работы на приставках диффузного отражения отечественных спектрометров серии ФСМ. Применение предложенного метода позволяет существенно повысить оперативность и точность (достоверность) измерения спектральных зависимостей коэффициентов диффузного отражения материалов и покрытий с шероховатыми поверхностями и малыми коэффициентами отражения.

1. Шуба Ю. А., Сидоровский Н. В. Индикатрисы отражения как базовые характеристики оптических свойств материала // Опт. журн. 1998. Т. 65, № 9. С. 49–53.

2. Непогодин И. А. Основные виды отражательных характеристик тел в направлении приема и методы их применения в оптике // Импульсная фотометрия. 1981. Вып. 7. С. 124–131.

3. Дунаев А. Ю., Золотаревский Ю. М., Морозова С. П., Саприцкий В. И., Фиданян Г. С., Ерикова А. А. Государственный первичный эталон единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн от 0,2 до 20,0 мкм ГЭТ 156–2015 // Измерительная техника. 2018. № 8. C. 7–9. DOI: 10.32446/0368-1025it-2018-8-7-9.

4. Балашов И. Ф. Энергетическая оценка импульсных лазерных дальномеров: Пособие по методике инженерных расчетов. СПб: ГИТМО(ТУ), 1999.

5. Козинцев В. И., Белов М. Л., Орлов В. М., Городничев В. А., Стрелков Б. В. Основы импульсной лазерной локации: Учеб. Пособие / Под ред. В. Н. Рождествина. М.: МПУ им. Н. Э. Баумана, 2006. 512 с.

6. Пат. 2 352 958 РФ. Лазерный когерентный локатор / О. Ф. Меньших // Бюл. 2009. № 11.

7. Гуревич М. М., Ицко Э. Ф., Середенко М. М. Оптические свойства лакокрасочных покрытий / Под ред. Э. Ф. Ицко. СПб: Профессия, 2010. 220с.

8. Pat. 117740736 China. Method for measuring surface diffuse reflection of low-reflection-light absorption layer / Tang Qianlong, Zha Jiaming, Li Sicheng, Zhang Ping, Lu Peng, Meng Xiangjian, Lu Danfeng, Yan Liubing, Wen Tao, Qian Xiaoxing, Li Yuanxiang, Liu Ziyuan. 2024.

9. Coblentz W. W., Hughes С.W. Emissivity tests of paints for decreasing or increasing heat radiation from surfaces // NBS Techn. Papers. 1924. Vol. 254, N 18. P. 171–187.

10. Пат. 2 688 961 РФ. Устройство для измерения двунаправленного коэффициента яркости инфракрасного излучения материалов / Е. А. Казьмин, А. Б. Корнилов, Г. А. Корнилов // Бюл. 2019. № 15.

11. Топорец А. С. Оптика шероховатой поверхности. Л.: Машиностроение, 1988. 198 с.

12. Pat. 118150527A China. Spectrum collection device for scattering characteristic analysis and spectrum system / Guo Heng, Wang Zhen, Yang Honjun. 2024.

13. Пат. 2663301 РФ. Устройство для измерения коэффициентов отражения и излучения материалов и покрытий / В. М. Просвириков, А. В. Григоревский, А. В. Курилович, И. Е. Суриков, А. М. Шамаев // Бюл. 2018. № 22.

14. Дунаев А. Ю., Золотаревский Ю. М., Морозова С. П., Саприцкий В. И., Фиданян Г. С., Ерикова А. А. Спектрофотометрические установки Государственного первичного эталона единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн от 0,2 до 20,0 мкм ГЭТ 156–2015 // Измерительная техника. 2018. № 11. C. 6–10. DOI: 10.32446/0368-1025it-2018-11-6-10.

15. Ельчищева Ю. Б. Спектрофотометрические методы анализа: Учеб. пособие. 2023 [Электронный ресурс]: http://www.psu.ru/files/docs/science/books/uchebnieposobiya/ElchishchevaSpektrofotometricheskie-metody-analiza.pdf., (08.01.2025).

16. Пронин В. В., Сагалаев С. М., Старченко А. Н. Исследование оптических характеристик композитных материалов // Опт. журн. 2024. Т. 91, № 9. С. 95–105. DOI: 10.17586/1023-5086-2024-91-09-95-105.

17. Пат. 2726036 РФ. Устройство для измерения пространственных индикатрис рассеяния / Н. В. Сидоровский // Бюл. 2020. № 19.

18. Голубинский А. Н. Методы аппроксимации экспериментальных данных и построения моделей // Вестн. Воронеж. ин-та МВД России. 2007. № 2. С. 138–143.

19. Сергеев В. А., Рогов В. Н., Ульянов А. В. Сравнительный анализ аппроксимирующих функций для спектральных характеристик серийных светофильтров // Измерительная техника. 2013. № 10. С. 27–29.

20. Матюнин С. А., Леонович Г. И. Использование функций Гаусса для аппроксимации передаточных функций многокомпонентных оптронных структур // Нано- и микросистемная техника. 2001. № 9. С. 7.