Preview

Известия высших учебных заведений. Приборостроение

Расширенный поиск
Доступ открыт Открытый доступ  Доступ закрыт Только для подписчиков

Изменение параметров шероховатости поверхности заготовок микроканальных пластин на различных стадиях механической обработки

https://doi.org/10.17586/0021-3454-2026-69-2-185-190

Аннотация

Исследовано изменение среднего арифметического отклонения оцениваемого профиля заготовок микроканальных пластин на стадиях механической обработки полуконтактным методом на сканирующем зондовом микроскопе. Представлен метод контроля изменения шероховатости поверхности заготовок микроканальных пластин на стадиях резания алмазным диском, шлифования и полирования. Показано, что предложенный метод контроля параметров структуры с использованием анализа АСМ-изображений поверхности микроканальных заготовок может быть применен для количественного анализа морфологии и топографии образцов в нано- и микрометровом диапазонах при изменении материалов или технологии механической обработки с целью уменьшения времени обработки и повышения производительности на этапах шлифования и полирования.

Об авторах

Д. Г. Самканашвили
Владикавказский технологический центр „Баспик”
Россия

Давид Геннадьевич Самканашвили — канд. техн. наук, доцент, директор по науке и инноватике,

 Владикавказ.



О. Б. Агасиев
Владикавказский технологический центр „Баспик”
Россия

Олег Борисович Агасиев — инженер, лаборатория нанотехнологий,

Владикавказ.



Список литературы

1. Бочкин И. О. Механическая обработка полупроводниковых материалов. М.: Высшая школа, 1983.

2. Перерозин М. А. Справочник по алмазной обработке стекла. М.: Машиностроение, 1987. 224 с.

3. Смирнов В. А. Обработка оптического стекла. Л.: Машиностроение, 1969. 144 с.

4. Обейд А. Исследование динамики шероховатости поверхности стекол ВК7 и ТФ1 при обработке поверхностным притиром // Оптический журнал. 2005. Т. 72, № 12. С. 79–82.

5. Дубовой А. Н., Кулаков В. А., Носов С. А., Гаврищук Е. М., Тимофеев О. В. Использование атомно-силовой микроскопии при оценке характеристик поверхности оптических элементов, полученных на основе наноструктурированной керамики из халькогенидов цинка // Тез. докл. XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. Черноголовка, 2011. С. 84.

6. Миронов В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. Н. Новгород: Изд-во РАНИФМ, 2004. 110 с.

7. Винокуров В. М. Исследование процесса полировки стекла. М.: Машиностроение, 1967. 196 с.

8. Брандон Д., Каплан У. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля. М.: Техносфера, 2004. 384 с.

9. Павлушкин Н. М., Сентюрин Г. Г., Ходаковская Р. Я. Практикум по технологии стекла и ситаллов. М.: Стройиздат, 1970.

10. Луценко А. Н., Одинцев И. Н., Гриневич А. В., Северов П. Б., Плугатарь Т. П. Исследование процесса деформации материала оптико-корреляционными методами // Авиационные материалы и технологии. 2014. № S4. С. 70–86. DOI: 10.18577/2071-9140-2014-0-s4-70-86.

11. Золотарев В. М. Исследование поверхностного слоя, образующегося при обработке кварцевого стекла с помощью механохимического и ионного полирования // Оптика и спектроскопия. 2022. Т. 130, вып. 12. С. 1875– 1885.


Рецензия

Для цитирования:


Самканашвили Д.Г., Агасиев О.Б. Изменение параметров шероховатости поверхности заготовок микроканальных пластин на различных стадиях механической обработки. Известия высших учебных заведений. Приборостроение. 2026;69(2):185-190. https://doi.org/10.17586/0021-3454-2026-69-2-185-190

For citation:


Samkanashvili D.G., Agasiev O.B. Changing the Surface Roughness Parameters of Microchannel Plate Workpieces at Various Stages of Mechanical Processing. Journal of Instrument Engineering. 2026;69(2):185-190. (In Russ.) https://doi.org/10.17586/0021-3454-2026-69-2-185-190

Просмотров: 201

JATS XML

ISSN 0021-3454 (Print)
ISSN 2500-0381 (Online)