DOI 10.17586/0021-3454-2015-58-4-312-314
УДК 681.2
АНАЛИЗ ИНДИКАТРИС СПЕКТРАЛЬНЫХ КОЭФФИЦИЕНТОВ ЯРКОСТИ ПОВЕРХНОСТЕЙ С РАЗЛИЧНОЙ МИКРОГЕОМЕТРИЕЙ
Университет ИТМО, кафедра технологии приборостроения; ГОИ им. Вавилова; аспирант, младший научный сотрудник
Читать статью полностью
Аннотация. Сравниваются индикатрисы спектральных коэффициентов яркости поверхностей, характеризующихся различной микрогеометрией. Проанализирована возможность применения таких поверхностей в проекционных экранах для инфракрасного диапазона. Представлены особенности направленного светоотражения поверхности с регулярным микрорельефом в виде шестигранных сферических ячеек.
Ключевые слова: проекционный растровый экран, спектральный коэффициент яркости
