СИСТЕМА МОНИТОРИНГА ПРОЦЕССА СЕЛЕКТИВНОГО ЛАЗЕРНОГО СПЕКАНИЯ
;
Смуров И. Ю.
;
Аннотация. Для контроля параметров технологического процесса селективного лазерного спекания и визуализации области обработки разработана и создана система оптического мониторинга, основанная на измерении максимальной температуры и ее распределения в области спекания методом спектрального отношения с пространственным и временным разрешением. Система интегрирована с лазерной системой технологического комплекса.
