МЕТОДИКА ТЕСТОПРИГОДНОГО ПРОЕКТИРОВАНИЯ АНАЛОГО-ЦИФРОВЫХ СХЕМ
Владимирский государственный университет им. А. Г. и Н. Г. Столетовых, кафедра вычислительной техники; доцент
Читать статью полностью
Аннотация. Предложена методика тестопригодного проектирования аналого-цифровых схем с использованием параллелизма, поддерживающего одновременное выполнение проектных процедур на современных многоядерных или многопроцессорных вычислительных системах. Предусмотрена процедура выбора методов внешнего и внутрисхемного тестирования.
Ключевые слова:
тестопригодное проектирование, внутрисхемное тестирование, аналого-цифровые интегральные схемы, автоматизация проектирования, параллелизм.
