ISSN 0021-3454 (print version)
ISSN 2500-0381 (online version)
Menu

9
Issue
vol 60 / SEPTEMBER, 2017
Article
UDC 53.082.54

STUDY ON APPLICATION OF SEMICONDUCTOR LASER TO DIFFRACTOMETRY

Веселовский А. Б.
Университет ИТМО; ст. науч. сотр., зам. начальника отделения лазерной физики, техники и медицины кафедры квантовой электроники и биомедицинской оптики


Митрофанов А. С.
Университет ИТМО; профессор кафедры квантовой электроники и биомедицинской оптики


Фефилов Г. Д.
Университет ИТМО; научн. сотрудник кафедры квантовой электроники и биомедицинской оптики


Read the full article 

Abstract. Spatial coherence of semiconductor laser with the wavelength of 630 nm is studied experimentally. Revealed high degree of spatial coherence is shown to allow for application of the laser to diffractometry. The possibility to obtain diffraction pattern of sufficient contrast is demonstrated by the example of slit diffraction of radiation generated by the laser under consideration.
Keywords: semiconductor laser, spatial coherence, diffractometry