ВОЗМОЖНОСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО ЛАЗЕРА В ДИФРАКТОМЕТРИИ
Университет ИТМО; ст. науч. сотр., зам. начальника отделения лазерной физики, техники и медицины кафедры квантовой электроники и биомедицинской оптики
Митрофанов А. С.
Университет ИТМО; профессор кафедры квантовой электроники и биомедицинской оптики
Фефилов Г. Д.
Университет ИТМО; научн. сотрудник кафедры квантовой электроники и биомедицинской оптики
Читать статью полностью
Аннотация. Экспериментально исследована пространственная когерентность полупроводникового лазера с длиной волны излучения 630 нм. Выявлена достаточно высокая пространственная когерентность, позволяющая применять полупроводниковый лазер в дифрактометрии. На примере дифракции на щели показана возможность получения контрастных дифракционных картин, возникающих при воздействии излучения, генерируемого полупроводниковым лазером.
Ключевые слова:
полупроводниковый лазер, пространственная когерентность, дифрактометрия микрообъектов
