DOI 10.17586/0021-3454-2016-59-7-558-562
УДК 621.396.6
ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ДИАГРАММЫ ПАРЕТО ДЛЯ ОБЕСПЕЧЕНИЯ КАЧЕСТВА ФУНКЦИОНИРОВАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ
Военно-космическая академия им. А. Ф. Можайского, кафедра информационно-вычислительных систем и сетей; доцент
Белая Т. И.
Военно-космическая академия им. А. Ф. Можайского, кафедра информационно-вычислительных систем и сетей;
Молчанов О. Е.
Военно-космическая академия им. А. Ф. Можайского, кафедра информационно-вычислительных систем и сетей, Санкт-Петербур; доцент
Читать статью полностью
Аннотация. Рассматривается подход к решению задачи обеспечения качества функционирования (повышения надежности) полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Сущность подхода заключается в использовании диаграммы Парето, наглядно показывающей зависимость отказов интегральных микросхем от вида дефекта. Определены основные виды дефектов, приводящих к большинству отказов полупроводниковых приборов.
Ключевые слова: анализ Парето, диаграмма Парето, качество функционирования, отказ, надежность, интегральная микросхема
Список литературы:
Список литературы:
-
Juran J. M. Product quality-a prescription for West // Management Review. 1981. June. P. 9—10.
-
Аверьянов А. В., Белозёров В. А., Горичев Ю. В., Осипов Н. А. Надежность систем космических комплексов: Руководство к практическим и лабораторным занятиям. СПб: ВКА им. А. Ф. Можайского, 2006. С. 58—76.
-
Чернышев А. А. Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. М.: Радио и связь, 1988. 256 с.
-
Статистические методы повышения качества / Пер. с англ.; под ред. Х. Кумэ. М.: Финансы и статистика, 1990. 304 с.
