МИНИМАЛЬНО НЕОБХОДИМЫЙ ОБЪЕМ ИСПЫТАНИЙ ИЗДЕЛИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ НА ЭТАПЕ ВХОДНОГО КОНТРОЛЯ
ОАО „ Испытательный технический центр — НПО ПМ“; зам. директора
Орлов В. И.
ОАО „ Испытательный технический центр — НПО ПМ“; директор
Читать статью полностью
Аннотация. Определен минимально необходимый объем отбраковочных испытаний изделий микроэлектроники для космических аппаратов. Предложенный подход позволяет минимизировать затраты на проведение испытаний, реализация которых способствует обеспечению надежности функционирования аппаратуры и КА в целом.
Ключевые слова:
электрорадиоизделия, дополнительные отбраковочные испытания, разрушающий физический анализ, электротермотренировка.
