ISSN 0021-3454 (печатная версия)
ISSN 2500-0381 (онлайн версия)
Меню

2
Содержание
том 67 / Февраль, 2024
СТАТЬЯ

DOI 10.17586/0021-3454-2022-65-7-513-519

УДК 535.317

ИЗОФОТОМЕТРИЧЕСКИЙ МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЛИНИЙ СПЕКТРА МАЛОЙ ИНТЕНСИВНОСТИ

Кирилловский В. К.
Санкт-Петербургский государственный университет инфор-мационных технологий, механики и оптики; профессор


Точилина Т. В.
Университет ИТМО, Санкт-Петербург, 197101, Российская Федерация; старший преподаватель


Читать статью полностью 

Аннотация. Рассмотрены возможности методов изофотометрии для анализа линий спектра малой интенсивности. Назначение изофотометрии спектра состоит в способности выявления линий и зон спектра с низким уровнем интенсивности. Предложенный метод служит альтернативой традиционным методам регистрации линий спектра, в которых используется фотографирование спектра на приемнике изображения, что позволяет получить информацию о распределении относительной интенсивности спектра в диапазоне 10–2. Изофотометрия функции рассеяния точки позволяет получать диапазон перепада относительных освещенностей в изображении 10–4— 10–5. Такие же возможности открываются при изофотометрии спектра. Кратко рассмотрены основы инновационных методов изофотометрии излучений и полей. Отмечено основное достоинство метода изофотометрии спектра — возможность обнаружения новых спектральных линий, которые не удается регистрировать традиционными методами. Отмечена эффективность метода и области его применения.
Ключевые слова: спектр, изофотометрия, функция преобразования, интенсивность спектра, инновационный метод

Список литературы:
  1. Кирилловский В. К., Точилина Т. В. Оптические измерения. Ч. 5. Аберрации и качество оптического изображения. СПб: Ун-т ИТМО, 2019.
  2. Кирилловский В. К. Современные оптические исследования и измерения. СПб: Изд-во „Лань“, 2022. 340 с.
  3. Кирилловский В. К., Точилина Т. В. Оптические измерения. Ч. 4. Оценка качества оптического изображения и измерение его характеристик. СПб: Ун-т ИТМО, 2018. 86 с.
  4. Иванова Т. А., Кирилловский В. К. Проектирование и контроль оптики микроскопов. Л.: Машиностроение, 1984. 231 с.
  5. Родионов С. А. Основы оптики. Конспект лекций. СПб: СПб ГИТМО (ТУ), 2000. 167 с.
  6. Зверев В. А. Основы геометрической оптики. СПб: СПб ГИТМО (ТУ), 2002. 218 с.
  7. Креопалова Г. В., Лазарева Н. Л. Пуряев Д. Т. Оптические измерения. М.: Машиностроение, 1987. 264 с.
  8. Еськова Л. М., Гаврилин Д. В. Компьютерные методы контроля оптики. СПб: СПб ГУ ИТМО, 2004. 89 с.
  9. Оптический производственный контроль / Под ред. Д. Малакары. М.: Машиностроение, 1985. 400 с.
  10. Зайдель А. Н. Основы спектрального анализа. М.: Наука, 1965. 324 с.
  11. Кирилловский В. К., Точилина Т. В. Оптические измерения. Ч. 6. Инновационные направления в оптических измерениях и исследованиях оптических систем. СПб: Ун-т ИТМО, 2019. 96 с.
  12. Зверев В. А., Кирилловский В. К., Сокольский М. Н. К методике расшифровки результатов изофотометрической съемки изображений точечных объектов // Современная прикладная оптика и оптические приборы: Материалы Всесоюз. науч.-техн. конф. Л.: ЛИТМО, 1975. С. 62—63.
  13. 1Зверев В. А., Кирилловский В. К., Сокольский М. Н. Применение метода изофотометрической регистрации при исследованиях и аттестации главного зеркала БТА // ОМП. 1976. № 12. С. 6—8.
  14. Sahu R., Mordechai Sh. Spectroscopic techniques in medicine: The future of diagnostics // Applied Spectroscopy Rev. 2016. N 51(6). P. 484—499. DOI: 10.1080/05704928.2016.1157809.
  15. Hammes G. G. Spectroscopy for the Biological Sciences. Wiley, 2005. 192 р.
  16. Popescu M., Birlan M., Gherase R.M., Sonka A., Naiman M., Cristescu C. P. Applications of visibile and infrared spectroscopy to astronomy // UPB Scientific Bulletin, Ser. A: Applied Mathematics and Physics. 2012. N 74(3). P. 107—120.
  17. Mandon J., Guelachvili G., Picqué N. Fourier transform spectroscopy with a laser frequency comb // Nature Photonics. 2009. Vol. 3. Р. 99—102. DOI:10.1038/nphoton.2008.293.
  18. Coddington I., Swann W. C., Newbury N. R. Coherent Dual Comb Spectroscopy at High Signal to Noise // Physical Rev. E, Statistical Physics, Plasmas, Fluids, and Related Interdisciplinary Topics. 2010. N 82(4). DOI: 10.1103/PhysRevA.82.043817.
  19. Schiller S. Spectrometry with frequency combs // Opt. Letters. 2002. N 27. P. 766—768. DOI: 10.1364/OL.27.000766.
  20. Gohle C., Stein B., Schliesser A., Udem T., Hänsch T.W. Frequency comb vernier spectroscopy for broadband, high-resolution, high-sensitivity absorption and dispersion spectra // Phys. Rev. Lett. 2007. N 99. P. 263902. DOI: 10.1103/PhysRevLett.99.263902.