ISSN 0021-3454 (печатная версия)
ISSN 2500-0381 (онлайн версия)
Меню

7
Содержание
том 63 / Июль, 2020
СТАТЬЯ

DOI 10.17586/0021-3454-2016-59-7-558-562

УДК 621.396.6

ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ДИАГРАММЫ ПАРЕТО ДЛЯ ОБЕСПЕЧЕНИЯ КАЧЕСТВА ФУНКЦИОНИРОВАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ

Аверьянов А. В.
Военно-космическая академия им. А. Ф. Можайского, кафедра автоматизированных систем подготовки и пуска ракет и космических аппаратов; доцент


Белая Т. И.
Военно-космическая академия им. А. Ф. Можайского, кафедра информационно-вычислительных систем и сетей;


Молчанов О. Е.
Военно-космическая академия им. А. Ф. Мо​жайского, кафедра информационно-вычислительных систем и сетей, Санкт-Петербур; доцент


Читать статью полностью 

Аннотация. Рассматривается подход к решению задачи обеспечения качества функционирования (повышения надежности) полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Сущность подхода заключается в использовании диаграммы Парето, наглядно показывающей зависимость отказов интегральных микросхем от вида дефекта. Определены основные виды дефектов, приводящих к большинству отказов полупроводниковых приборов. 
Ключевые слова: анализ Парето, диаграмма Парето, качество функционирования, отказ, надежность, интегральная микросхема

Список литературы:
  1. Juran J. M. Product quality-a prescription for West // Management Review. 1981. June. P. 9—10.
  2. Аверьянов А. В., Белозёров В. А., Горичев Ю. В., Осипов Н. А. Надежность систем космических комплексов: Руководство к практическим и лабораторным занятиям. СПб: ВКА им. А. Ф. Можайского, 2006. С. 58—76.
  3. Чернышев А. А. Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. М.: Радио и связь, 1988. 256 с.
  4. Статистические методы повышения качества / Пер. с англ.; под ред. Х. Кумэ. М.: Финансы и статистика, 1990. 304 с.