ISSN 0021-3454 (печатная версия)
ISSN 2500-0381 (онлайн версия)
Меню

9
Содержание
том 62 / Сентябрь, 2019
СТАТЬЯ

DOI 10.17586/0021-3454-2019-62-8-758-762

УДК 532.62:547.27

ЗАВИСИМОСТЬ ПОКАЗАТЕЛЕЙ ПРЕЛОМЛЕНИЯ И ПОГЛОЩЕНИЯ ОТ ТОЛЩИНЫ НАНОРАЗМЕРНЫХ ЖИДКИХ ПЛЕНОК

Новожилов Н. В.
Тверской государственный университет;


Сдобняков Н. Ю.
Тверской государственный университет;


Родин И. Д.
Тверской государственный университет;


Аннотация. С использованием фотометрического спектроэллипсометра „Эльф“ на основе анализа спектра эллипсометрических углов  и  исследованы размерные зависимости показателя преломления и показателя поглощения наноразмерных пленок этилового спирта, нанесенных на кремниевую подложку и подложку из стекла. Установлено, что для показателя преломления в исследуемом интервале наблюдается монотонное уменьшение с ростом толщины пленки. В области 85—140 нм для подложки из стекла и 120—150 нм для кремниевой подложки зафиксирован достаточно резкий спад показателя поглощения с уменьшением толщины пленки. Предполагается, что для показателя преломления такой эффект будет наблюдаться только в диапазоне меньших толщин пленок.
Ключевые слова: показатель преломления, показатель поглощения, размерная зависимость, эллипсометрия, наноразмерные жидкие пленки

Список литературы:
  1. Peiponen K.-E. Optical spectra analysis of turbid liquids Faculty of Technology, Department of Electrical and Information Engineering. Oulu: University of Oulu, 2009. 60 p.
  2. Henkel S., Beyrau F., Hardalupas Y., Taylor A. M. K. P. A novel method for the measurement of liquid film thickness during fuel spray impingement on surfaces // Optics Express. 2016. Vol. 16, N 3. P. 2542—2561. DOI:10.1364/OE.24.002542.
  3. Weir K., Yupapin P. V. P., Chitaree R., Palmer A. W., Grattan K. T. V. Dynamic measurement of thin liquid film parameters using high-speed ellipsometry // Sensors and Actuators A: Physical. 1998. Vol. 65, N 1. P. 19—22. DOI: 10.1016/S0924-4247(97)01642-7.
  4. Webster R. D., Beaglehole D. In situ electrochemical-ellipsometry studies of charge-transfer processes at the liquid/liquid interface // Physical Chemistry Chemical Physics. 2000. Vol. 2. P. 5660—5666. DOI: 10.1039/B005629O.
  5. Hirtz A., Findenegg G. H. The surface profile of aqueous solutions of an amphiphile (С10E4) near liquid/liquid phase separation probed by ellipsometry // J. of Physics: Condensed Matter. 1996. Vol. 8. P. 9541—9545. DOI: 10.1088/0953-8984/8/47/059.
  6. Ким Д. А., Сдобняков Н. Ю., Новожилов Н. В., Антонов А. С., Соколов Д. Н., Воронова Е. А. Измерение показателя преломления наноразмерной пленки этилового спирта // Нанотехника. 2013. № 2(34). С. 72—74.
  7. Любинская Р. И., Мардежов А. С., Свиташев К. К., Хасанов Т. Определение четырех параметров системы изотропная пленка—ориентированный одноосный кристалл // Оптика и спектроскопия. 1988. Т. 65, Вып. 3. С. 632—636.
  8. Новожилов Н. В., Сдобняков Н. Ю., Родин И. Д. О размерной зависимости коэффициента поглощения наноразмерной пленки этилового спирта на кремнии // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. 2016. Вып. 8. С. 269—272.
  9. Ширшов Ю. М., Набок А. В., Доценко А. М. Исследование профиля показателя преломления неоднородных диэлектрических слоев методом послойного травления // Эллипсометрия — метод исследования поверхности. Новосибирск: Наука, 1983. С. 100—102.
  10. Мутилин С. В., Хасанов Т. Показатель преломления тонкой однородной пленки SiO2 // Оптика и спектроскопия. 2008. Т. 105, Вып. 3. С. 505—510.
  11. Чураева М. Н., Зорин З. М., Конюшкина Н. И. Определение оптических характеристик толстых слабопоглощающих пленок методом спектральной эллипсометрии // Эллипсометрия: теория, методы, приложения: сб. статей / Отв. ред. чл.-корр. АН СССР К. К. Свиташева, А. С. Мардежова. Новосибирск: Наука, 1991. С. 67—72.
  12. Григорьева Т. И., Зилинг К. К., Мардежов А. С., Хасанов Т. Эллипсометрическое определение толщины титана для целей волноводной оптики. Препринт 3-85. Новосибирск: ИФП СО РАН, 1985. 10 с.
  13. Сдобняков Н. Ю., Новожилов Н. В., Антонов А. С., Воронова Е. А., Михайлова О. В. Исследование эллипсометрическим методом зависимости показателя преломления от толщины наноразмерной пленки ацетона // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. 2014. Вып. 6. С. 349—352.
  14. Samsonov V. M., Sdobnyakov N. Yu. Bembel A. G., Sokolov D. N., Novozhilov N. V. Size dependence of the melting temperature of metallic films: two possible scenarios // J. of Nano- and Electronic Physics. 2013. Vol. 5, N 4. P. 04005-1—04005-3.
  15. Бойнович Л. Б., Емельяненко А. М. Применение эллипсометрии свободных пленок для определения показателей преломления субтонких слоев жидкости // Эллипсометрия: теория, методы, приложения: сб. статей / Отв. ред. чл.-корр. АН СССР К. К. Свиташева, А. С. Мардежова. Новосибирск: Наука, 1991. С. 61—66.