МИНИМАЛЬНО НЕОБХОДИМЫЙ ОБЪЕМ ИСПЫТАНИЙ ИЗДЕЛИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ НА ЭТАПЕ ВХОДНОГО КОНТРОЛЯ
ОАО „ Испытательный технический центр — НПО ПМ“; зам. директора
Орлов В. И.
ОАО „ Испытательный технический центр — НПО ПМ“; директор
Читать статью полностью
![](/images/pdf.png)
Аннотация. Определен минимально необходимый объем отбраковочных испытаний изделий микроэлектроники для космических аппаратов. Предложенный подход позволяет минимизировать затраты на проведение испытаний, реализация которых способствует обеспечению надежности функционирования аппаратуры и КА в целом.
Ключевые слова:
электрорадиоизделия, дополнительные отбраковочные испытания, разрушающий физический анализ, электротермотренировка.