Цветкова Татьяна Владимировна
Место работы: Национальный исследовательский университет „Высшая школа экономики“, кафедра радиоэлектроники и телекоммуникаций;
ОАО НИИ „Полюс“ им. М. Ф. Стельмаха, Москва
Должность: аспирант; инженер по метрологии
Должность: аспирант; инженер по метрологии
Азарова В. В., Цветкова Т. В. АНАЛИЗ ШЕРОХОВАТОСТИ ПРЕЦИЗИОННЫХ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ МЕТОДА ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОЙ МИКРОСКОПИИ
Статья опубликована в выпуске 6(57) за 2014
Статья опубликована в выпуске 6(57) за 2014
