ISSN 0021-3454 (печатная версия)
ISSN 2500-0381 (онлайн версия)
Меню
Автор
int(5309)

Швец Василий Александрович

Место работы: Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, Специализированный учебно-научный центр Новосибирского государственного университета, кафедра физики
Ученая степень: канд. физ.-мат. наук
E-mail: shvets@isp.nsc.ru
Швец В. А., Рыхлицкий С. В., Спесивцев Е. В., Михайлов Н. Н. ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИЙ КОНТРОЛЬ ПАРАМЕТРОВ ВЫРАЩИВАЕМЫХ НАНОРАЗМЕРНЫХ ГЕТЕРОСТРУКТУР
Статья опубликована в выпуске 6(52) за 2009
Федоринин В. Н., Кузнецов С. А., Швец В. А., Аржанников А. В., Гельфанд А. В., Горшков А. Ю. ЭЛЛИПСОМЕТРИЯ МИЛЛИМЕТРОВОГО ДИАПАЗОНА В ЗАДАЧАХ ДИАГНОСТИКИ КОМПОЗИЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ
Статья опубликована в выпуске 6(66) за 2023